SICK流量測量S30B-2011CA
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產(chǎn)品名稱: SICK流量測量S30B-2011CA
產(chǎn)品型號: 1025911 WL18-3P430
產(chǎn)品展商: SICK
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
插圖 15：利用位移傳感器 OC Sharp 測量半導體晶片的層厚
SICK流量測量S30B-2011CA
的詳細介紹
SICK流量測量S30B-2011CA
使用干涉測量方法時，光學測量傳感器可以無損和**地檢測
從大約 3 μm 起的層厚。由此直接評估流程質量，而無需剔除
晶片。
插圖 15：利用位移傳感器 OC Sharp 測量半導體晶片的層厚
玻璃行業(yè)：玻璃的距離和厚度測量
為確保將玻璃表面放置在距夾具的合適距離處，距離測量是必
不可少的。一些基于激光的傳感器以及彩色共焦傳感器與超聲
波傳感器均適用于此用途。
1016933 WT24-2B410
1017860 WL24-2B430
1017910 PL240DG
1018252 WL12L-2B530
1018637 C40S-0403CA010
1018638 C40E-0403CA010
1018663 C40S-0704CA010
1018664 C40E-0704CA010
1022302 WT150-P460S03
1022659 WT2S-P231
1023972 MZT6-03VPS-KR0
1024123 MLG1-0290F52
1025911
1025911 WL18-3P430
1026517 DT500-A112
1027763 WTB27-3R2611
1028155 WL4-3F2130光電傳感器
1034818 DKS40-E5J02048
1036558 SKM36S-HFA0-K02
1037059 SRS50-HAA0-K21
1040066 MM08-60ANS-ZUK
1040780 IME12-08NPSZC0S
1040848 IME08-1B5NSZW2S
1040854 IME08-2N5PSZT0S.
1040870 IME08-02BPSZT0
